Surface Analysis by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): Principles and Applications from Swiss laboratories

Johanna Marin Carbonne; Anne Sophie Bouvier; Lukas Baumgartner; Daniela rubatto; Thomas Bovay; Florent Plane; Stephane Escrig; Andras Kiss

Surface Analysis by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): Principles and Applications from Swiss laboratories

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23 février 2022

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doi: 10.2533/chimia.2022.26

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Serveur académique Lausannois

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Collection

Serveur Académique Lausannois

Organisation

Université de Lausanne et CHUV

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Mots-clés 0

General Medicine; General Chemistry

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Johanna Marin Carbonne et al., « Surface Analysis by Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS): Principles and Applications from Swiss laboratories », Serveur académique Lausannois, ID : 10.2533/chimia.2022.26

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