Imperfections cristallines dans les phyllosilicates. Méthodes d'étude par diffraction électronique et diffraction X

Résumé En Fr

Layer silicates are composed ofbiperiodic elements, the staking of which may be unperfect. These elements themselves are likely to present anomalies which are distributed so as to constitute defects with bidimensional periodicity. The authors are led to consider successively the methods permitting them to point out these two types of defects either by X ray diffraction or by electron diffraction.

Les phyllosilicates sont constitués par la superposition d'éléments Apériodiques dont l'empilement peut ne pas être parfaitement régulier. Ces éléments eux-mêmes peuvent présenter des anomalies qui se répartissent de façon à constituer des défauts à la périodicité bidimensionnelle. Nous serons donc amenés à considérer successivement les méthodes qui nous permettront de mettre en évidence ces deux types de défauts soit par diffraction X, soit par diffraction électronique. Le choix de la méthode d'étude des imperfections dépendra à la fois de la dimension des particules du minéral et de la nature du défaut que l'on voudra déceler. Généralement, sur les corps microcristallisés, il ne sera possible d'étudier que des défauts d'empilement : analyse des profils des bandes (hk) de diffraction obtenus à partir des diagrammes de poudre ; analyse des profils des réflexions 001 obtenus à partir de dépôts orientés ; visualisation des plans réticulaires par méthode interférentielle en microscopie électronique. Sur les monocristaux, il sera possible de déceler, par diffraction X ou par diffraction électronique les défauts existant dans le plan du feuillet bipériodique. En particulier, c'est sur un monocristal que l'on pourra étudier les relations d'ordre-désordre dans la distribution des substitutions isomorphes.