1974
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M. Paulus et al., « Application de l'amincissement ionique à l'étude de la structure des roches argileuses en microscopie électronique par transmission », Bulletin du Groupe français des Argiles, ID : 10.3406/argil.1974.1212
Nous présentons les possibilités offertes par le bombardement ionique pour l'amincissement d'échantillons de roches argileuses jusqu'à la transparence électronique qui permet l'examen direct du matériau. Cette technologie permet d'adapter à la microscopie électronique le mode d'examen classique de microscopie optique en lame mince couramment utilisé en géologie ; elle présente l'intérêt majeur de reculer la limite d'observation pétrographique courante à une fraction de micron, ce qui rend possible l'étude détaillée en lame mince de la structure des roches aux grains les plus fins. Le but pétrolier pratique a été l'étude de la géométrie du réseau poreux existant entre les particules d'argile, afin d'en déduire des indications sur le comportement des sédiments vis-à-vis de la circulation des fluides. Après un rappel très succinct du principe de fonctionnement, on décrit l'appareillage utilisé et on présente les avantages de la technique employée : a) cathode multifaisceaux permettant un bombardement uniforme ; b) bombardement sous incidence rasante pour : -éliminer l'attaque sélective suivant la nature des phases -éviter d'accentuer les inégalités d'épaisseur dues aux pores -réduire la profondeur de pénétration des ions ; c) contrôle automatique de la fin d'amincissement et du changement d'angle d'incidence. On discute ensuite de l'influence de l'angle d'incidence et de la tension d'accélération sur la profondeur de pénétration des ions et le rendement de la pulvérisation. Les possibilités de cette technologie sont montrées sur deux échantillons de roches argileuses : une marne et un schiste, ainsi que sur quatre échantillons de minéraux argileux.